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大口径光学元件吸收缺陷检测仪


大口径光学元件吸收缺陷检测仪

       大口径光学元件吸收缺陷检测仪(Model PTM-2000-LA),适用于各类大口径固体表面及亚表面缺陷的检测和分析,特别是各类大口径光学薄膜、光学元器件表面及亚表面吸收缺陷的检测和分析。本系统是一款非接触式、高分辨率、全自动化检测仪器,可以根据用户具体需求进行紫外、可见或者近红外波段的精密检测和分析。

   产品特征

1、高灵敏度;

2、高重复精度;

3、一键式操作 ;

4、样品更换便捷、无需重复校准;

5、可对吸收缺陷进行二维(三维)高分辨率成像;

6、可进行样品或者选定的缺陷点在激光辐照下的稳定性分析 ;

7、泵浦光源:可以标配,也可以根据用户需求选配。

   主要技术参数
大口径光学元件吸收缺陷检测仪

检测灵敏度

0.1ppm

检测波长

355 nm、532 nm、1064 nm或定制波长

泵浦激光根 

据客户需求配置

空间分辨率

≤10 μm

样品尺寸

500mmX500mm或客户定制

注:可以根据客户需求提供同类特制仪器和相关测试的解决方案。