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全自动光学元件表面缺陷检测系统


全自动光学元件表面缺陷检测系统

       全自动光学元件表面缺陷检测系统(Model AOSI-3000S),是一款专为中小口径光学元件表面的质量评价而设计开发的精密检测设备,该设备可以根据不同标准对表面缺陷进行快速检测分析和识别,自动分拣不合格产品,可以满足客户大规模批量化生产和检测需求。

   产品特征

1、自动上下料;

2、自动检测;

3、自动分选;

4、能兼容平面、球面、非球面元件;

5、检测标准:美军标、国标或客户自定义标准。

   主要技术参数
全自动光学元件表面缺陷检测系统
型号AOSI- -3000S
检测标准美军标、国标或客户自定义标准
最大检测效率≥2400片/小时
最大样品尺寸

1英寸

样品类型

平面、球面、非球面等

上下料方式自动
不合格品处理方式自动分拣

注:可根据用户需求,提供同类特制系统。