欢迎来到知常光电有限公司!
半自动光学元件表面缺陷检测系统


半自动光学元件表面缺陷检测系统

       半自动光学元件表面缺陷检测系统,是一款高分辨自动光学检测仪器,可对各种平面、球面、非球面光学元件的缺陷及外观进行自动化检测。该系统可根据美标、国标或客户自定义标准对划痕和麻点等表面缺陷进行检测。仪器内置功能齐全的分析软件,能为光学表面质量提供快速和可靠的判断。

   产品特征

1、人工智能操作;

2、高性能数字相机;

3、自动检测、自动判别;

4、稳定、均匀的照明光源; 

5、高精度的自动定位和扫描平台。

   主要技术参数
半自动光学元件表面缺陷检测系统
型号OSI---3000OSI---3000S
样品类型平面平面、球面、非球面
检测标准美军标、国标或客户自定义标准美军标、国标或客户自定义标准
检测效率

1200片/小时

(针对40/20标准,直径25.4mm样品)

1200片/小时

(针对40/20标准,直径25.4mm样品)

样品尺寸≤100 mm x 100mm≤100 mm x 100mm

注:可根据用户需求,提供同类特制系统。