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光学元件三维缺陷检测仪


光学元件三维缺陷检测仪

       光学元件三维缺陷检测仪(Model LS3D-2000),适用于各类光学材料的三维缺陷检测和分析,特别是光学晶体、光学玻璃的三维缺陷检测和分析。本系统是一款快速、简便、高灵敏度检测仪器。

   产品特征

1、速度快;

2、高灵敏度;

3、一键式全自动操作。

   主要技术参数
光学元件三维缺陷检测仪

型号

LS3D-2000

缺陷检测灵敏度

10 μm

样晶尺寸范围

尺寸可订制

检测速度

<2h@ 100 mmx 100 mmx20 mm

设备重量

300kg

注:可以根据客户需求提供同类特制仪器和相关测试的解决方案。