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光热扫描显微镜


光热扫描显微镜

       二维光热扫描显微镜(Model PTM-2000),适用于各类固体表面及亚表面缺陷的检测和分析,特别是各类光学薄膜、光学元器件表面及亚表面吸收缺陷的检测和分析。本系统是一款非接触式、高分辨率、全自动化检测仪器,可以根据用户具体需求进行紫外、可见或者近红外波段的精密检测和分析。

       三维光热扫描显微镜(Model PTM3D-2000),适用于各类光学元器件及材料体内缺陷的三维检测和分析。本系统是一款非接触式、高分辨率、全自动化检测仪器。

   产品特征

1、高灵敏度;

2、高重复精度;

3、一键式操作;

4、样品更换便捷、无需重复校准;

5、可对吸收缺陷进行二维(三维)高分辨率成像;

6、可进行样品或者选定的缺陷点在激光辐照下的稳定性分析;

7、泵浦光源:可以标配,也可根据用户需求选配或者由客户自配。

   主要技术参数
 光热扫描显微镜

产品类别

二维光热扫描显微镜二维光热扫描显微镜

型号

PTM-2000PTM3D-2000

检测灵敏度

0.1 ppm0.1 ppm

检测波长

355 nm, 532 nm, 1064 nm或定制波长

355 nm, 532 nm, 1064 nm或定制波长

泵浦激光

根据客户需求配置

根据客户需求配置

横向空间分辨率

在适当泵浦光波长条件下可达亚微米分辨率

横向3 μm,纵向20 μm

样品尺寸

50 mmx50 mm x10 mm

50 mmx50 mm x10 mm

注:可以根据客户需求提供同类特制仪器和相关测试的解决方案。