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光学弱吸收测量仪(科研级)

光学弱吸收测量仪,是一种基于激光诱导效应的光学测试设备。可以对光学薄膜、光学晶体、激光晶体、各类石英等材料进行吸收缺陷测量和吸收均匀性分布测量。分为检测表面吸收和体内材料吸收。 光学薄膜吸收测量仪(PTS-2000),适用于各类光学薄膜和光学元器件表面吸收率的检测和分析。根据客户具体需求,可进行紫外、可见或者近红外波段的精密测量。 光学材料体内吸收测量仪(PTB-2000 ),适用于各类光学元器件及材料体内吸收率的检测和分析。可以测量吸收均匀性分布、吸收缺陷、掺杂浓度等。对于光学材料内部的质量和指导生产过程具有重要作用。

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02

光学弱吸收测量仪(工业级)

光学薄膜吸收测量仪(PTS-1000),适用于各类光学薄膜和光学元器件表面吸收率的检测和分析。 根据客户具体需求,可以进行紫外、可见或者近红外波段的精密测量。

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03

光学吸收光谱仪

光学吸收光谱仪(PTAS-2000 ),适用于光学元件和材料表面、亚表面、体内吸收光谱的检测分析。本系统是—款非接触式、全自动的检测仪器,可根据客户需求进行紫外到红外全波段的精密检测和分析。

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激光红外光谱仪

激光红外光谱仪(LIRS-2000),用于红外材料在不同温度条件或压力条件下的变角度投射光谱测试。

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