多光谱智能透镜外观检测仪
半自动智能透镜外观检测仪
平面元件缺陷检测设备
碳化硅缺陷检测仪
玻璃晶圆缺陷检测设备
铌（钽）酸锂缺陷检测设备
图形晶圆缺陷检测设备
激光共聚焦显微镜
光学吸收测量仪(标准版)
光学吸收测量仪(简化版)
深紫外光学吸收测量仪
激光量热吸收测量仪
光学元件激光损伤检测及预处理设备
多模态表面缺陷检测仪
亚表面缺陷检测仪
光学透反射率测量仪
大口径元件吸收缺陷检测仪
大口径元件散射缺陷检测仪
大口径元件缺陷多模态检测仪
大口径元件高透/反射率测量仪
其他定制设备
工业应用设备
半导体晶圆缺陷检测设备
科学仪器及定制化解决方案
01
大口径元件高透/反射率测量仪(HTR-2000-LA)，主要应用于光学元件的透射率、反射率测量，能够对反射率高达99.99%或透射率高达99.99%的光学元件的透/反特性进行高精度测量。能够适用于不同尺寸，特别是大口径尺寸的光学元件，并根据元件尺寸信息自动规划检测路径，满足客户对感兴趣区域的透射/反射特性检测。
Read more
02
可根据用户需求，提供各类定制化解决方案,包括光学、半导体等材料的表面、亚表面、体内缺陷检测,吸收率反射率、透射率等检测。
共2页，跳转到第
页
