大口径元件高透/反射率测量仪
产品介绍
大口径元件高透/反射率测量仪(HTR-2000-LA),主要应用于光学元件的透射率、反射率测量,能够对反射率高达99.99%或透射率高达99.99%的光学元件的透/反特性进行高精度测量。能够适用于不同尺寸,特别是大口径尺寸的光学元件,并根据元件尺寸信息自动规划检测路径,满足客户对感兴趣区域的透射/反射特性检测。
大口径元件高透/反射率测量仪 | |
型号 | HTR-2000-LA |
测量光束波长 | 355nm、527nm、1053nm或定制波长 |
扫描口径 | ≤500mm x 500mm(L x W),或客户定制 |
透射率及反射率测量误差 | ≤5x10-4 |
透射率及反射率最大可测量值 | ≥99.9% |
系统稳定性 | <5x10-4 |
测量复现性 | <5x10-4 |
01
可对反射率99.99%、透射率99.99%的光学元件进行检测。
02
最大可检测尺寸500mmx500mm,或根据客户需求定制;
03
自动化操作,可自动调整元件姿态,规划元件检测路径;
04
自动生成检测结果统计报告;
05
高精度测量,误差小于5x10^(-4);
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