01

激光共聚焦显微镜

激光共聚焦显微镜(LCM-2000)，具备光学显微成像与激光共聚焦成像双重检测模式，主要用于各类材料的表面形貌与表面缺陷的三维检测分析。

02

光学吸收测量仪(标准版)

光学吸收测量仪(标准版)PTS-2000/PTB-2000，是一种基于激光诱导效应的光学检测设备。可以对光学薄膜、光学晶体、激光晶体、各类石英等材料进行吸收缺陷测量和吸收均匀性分布测量。

03

光学吸收测量仪(简化版)

光学吸收测量仪(简化版)PTS-1000/PTB-1000,专为薄膜、晶体、熔石英玻璃等光学材料和元件设计用于表面和体吸收特性的精密测量分析。

04

深紫外光学吸收测量仪

深紫外光学吸收测量仪(PTS-DUV-2000/PTB-DUV-2000)，是一款基于激光诱导光热检测技术，专为深紫外波段光学材料和元件吸收特性检测分析而开发的高灵敏度精密光学测试仪器。

05

激光量热吸收测量仪

激光量热吸收测量仪 (LC-2000), 是一种基于激光量热法测量光学元件弱吸收的光学检测设备。 由泵浦激光对光学元件进行辐照加热，采用高精度温度探测器对激光辐照区域进行温度测量，从而获 得光学元件对该波长下的激光的吸收信息。 LC-2000 适用于各类光学薄膜和光学元器件吸收率的检测和分析。根据客户具体需求，可进行紫外 可见或者近红外波段的精密测量。对于光学材料质量生产指导具有重要作用。

06

光学元件激光损伤检测及预处理设备

光学元件激光损伤检测及预处理设备(LDT-2000-C)，主要用于测试光学元件的激光损伤阈值以保证放置于光路中的各类光学元件的强激光负载性能，应用范围包括光学元件激光损伤测试、体材料激光损伤测试镀膜工艺优化等。

07

多模态表面缺陷检测仪

多模态表面缺陷检测仪(MMDI-2000)，结合全口径缺陷快速识别与子孔径高灵敏度、高分辨率显微成像的检测方式，对表面缺陷尺度、位置、形态进行统计分析，并可结合使用光热弱吸收、显微成像等不同模态检测用户关注的缺陷区域，获取关注区域的缺陷信息;也可以利用微分干涉相衬显微成像技术，实现凸起和凹坑的区分。

08

亚表面缺陷检测仪

亚表面缺陷检测仪(SSDI—2000 )，集成包括光学显微成像、激光共聚焦、荧光共聚焦选配等成像在内的多种检测模式，用于光学元件表面、亚表面缺陷的检测与分析，可在深度方向对样品进行分层检测。

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光学透反射率测量仪

光学透反射率测量仪(HTR-1000)，主要用于光学元件的透射率、反射率测量，能够对反射率高达99.99%或透射率高达99.99%的光学元件的透/反特性进行高精度测量。主要针对小口径光学元件，能够快速、精确、高重复性的检测光学元件的透射/反射特性。

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大口径元件吸收缺陷检测仪

大口径元件吸收缺陷检测仪(PTM-2000-LA)，基于光热扫描显微成像技术，适用于各类大口径固体表面及亚表面缺陷的检测和分析，特别是各类大口径光学薄膜、光学元器件表面及亚表面吸收缺陷的检测和分析。本系统是一款非接触式、高分辨率、全自动化检测仪器，可根据用户具体需求进行紫外、可见或红外波段的精密检测和分析。

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大口径元件散射缺陷检测仪

大口径元件散射缺陷检测仪(LSDI-2000-LA、LSDI-3000-C)，适用于大口径光学材料、半导体材料和金属等材料抛光后的表面缺陷检测和分析。本设备是一款非接触式、全自动的检测仪器，能够快速检测待测表面的划痕、麻点、脏污等特性。

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大口径元件缺陷多模态检测仪

大口径元件缺陷多模态检测仪(MMDI-2000-LA)，结合全口径缺陷快速识别与子孔径高灵敏度、高分辨率显微成像的检测方式，可利用激光散射对大口径光学元件进行全口径快速扫描成像，对缺陷尺度、位置、形态进行统计分析，并结合使用光热弱吸收、明场显微成像、暗场显微成像、激光共聚焦显微成像等不同模态检测用户关注缺陷区域，获得关注区域的缺陷信息。