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大口径元件吸收缺陷检测仪

大口径元件吸收缺陷检测仪（PTM-2000-LA）,基于光热扫描显 微成像技术，适用于各类大口径固体表面及亚表面缺陷的检测和分析，特别是各类大口径光学薄膜、光学元器件表面及亚表面吸收缺陷的检测和分析。本系统是一款非接触式、高分辨率、全自动化检测仪器，可根据用户具体需求进行紫外、可见或红外波段的精密检测和分析。

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大口径元件散射缺陷检测仪

大口径元件散射缺陷检测仪，适用于大口径光学材料、半导体材料和金属等材料抛光后的表面缺陷检测和分析。本设备是一款非接触式、全自动的检测仪器，能够高速检测待测表面的划痕、麻点、脏污等特性。

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大口径元件缺陷多模态检测仪

大口径元件缺陷多模态检测仪(MMDI-2000-LA)，结合全口径缺陷快速识别与子孔径高灵敏度、高分辨率显微成像的检测方式，可利用激光散射对大口径光学元件进行全口径快速扫描成像，对缺陷尺度、位置、形态进行统计分析，并结合使用光热弱吸收、明场显微成像、暗场显微成像、激光共聚焦显微成像等不同模态检测用户关注缺陷区域，获得关注区域的缺陷信息。

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大口径元件分光光度计

大口径元件分光光度计(SPM-2000-LA ),基于双光路分光光度检测技术，通过光谱数据处理分析各光谱峰值位置、计算膜层的不均匀性。该设备可适用于各类光学元件透射特性、反射特性的检测，包括薄膜材料膜层厚度均匀性的检测和分析。本设备是一款非接触式、高分辨率、全自动化检测仪器，可根据用户具体需求进行紫外、可见或红外波段的精密检测和分析。

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大口径元件高透/反射率测量仪

大口径元件高透/反射率测量仪(HTR-2000-LA ),主要应用于光学元件的透射率、反射率测量，能够对反 射率高达99.99%或透射率高达99.99%的光学元件的透/反特性进行高精度测量。能够适用于不同尺寸特别是大口径尺寸的光学元件，并根据元件尺寸信息自动规划检测路径，满足客户对感兴趣区域的透射/反射特性检测。

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其他定制设备

可根据用户需求，提供各类定制化解决方案，包括光学等材料的表面、亚表面、体内缺陷检测，吸收率、反射率、透过率等检测。