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大口径元件吸收缺陷检测仪

大口径元件吸收缺陷检测仪(PTM-2000-LA),基于光热扫描显 微成像技术,适用于各类大口径固体表面及亚表面缺陷的检测和分析,特别是各类大口径光学薄膜、光学元器件表面及亚表面吸收缺陷的检测和分析。本系统是一款非接触式、高分辨率、全自动化检测仪器,可根据用户具体需求进行紫外、可见或红外波段的精密检测和分析。

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02

大口径元件散射缺陷检测仪

大口径元件散射缺陷检测仪,适用于大口径光学材料、半导体材料和金属等材料抛光后的表面缺陷检测和分析。本设备是一款非接触式、全自动的检测仪器,能够高速检测待测表面的划痕、麻点、脏污等特性。

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03

大口径元件缺陷多模态检测仪

大口径元件缺陷多模态检测仪(MMDI-2000-LA),结合全口径缺陷快速识别与子孔径高灵敏度、高分辨率显微成像的检测方式,可利用激光散射对大口径光学元件进行全口径快速扫描成像,对缺陷尺度、位置、形态进行统计分析,并结合使用光热弱吸收、明场显微成像、暗场显微成像、激光共聚焦显微成像等不同模态检测用户关注缺陷区域,获得关注区域的缺陷信息。

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04

大口径元件分光光度计

大口径元件分光光度计(SPM-2000-LA ),基于双光路分光光度检测技术,通过光谱数据处理分析各光谱峰值位置、计算膜层的不均匀性。该设备可适用于各类光学元件透射特性、反射特性的检测,包括薄膜材料膜层厚度均匀性的检测和分析。本设备是一款非接触式、高分辨率、全自动化检测仪器,可根据用户具体需求进行紫外、可见或红外波段的精密检测和分析。

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05

大口径元件高透/反射率测量仪

大口径元件高透/反射率测量仪(HTR-2000-LA ),主要应用于光学元件的透射率、反射率测量,能够对反 射率高达99.99%或透射率高达99.99%的光学元件的透/反特性进行高精度测量。能够适用于不同尺寸特别是大口径尺寸的光学元件,并根据元件尺寸信息自动规划检测路径,满足客户对感兴趣区域的透射/反射特性检测。

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06

其他定制设备

可根据用户需求,提供各类定制化解决方案,包括光学等材料的表面、亚表面、体内缺陷检测,吸收率、反射率、透过率等检测。

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