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大口径元件吸收缺陷检测仪
产品介绍
大口径元件吸收缺陷检测仪(PTM-2000-LA),基于光热扫描显微成像技术,适用于各类大口径固体表面及亚表面缺陷的检测和分析,特别是各类大口径光学薄膜、光学元器件表面及亚表面吸收缺陷的检测和分析。本系统是一款非接触式、高分辨率、全自动化检测仪器,可根据用户具体需求进行紫外、可见或红外波段的精密检测和分析。
*注:可根据用户需求提供同类特制仪器和相关测试的解决方案。
01
高灵敏度
02
高重复精度
03
一键式操作
04
样品更换便捷、无需重复校准
05
可对吸收缺陷进行二维(三维)高分辨率成像
06
可进行样品或者选定的缺陷在激光辐照下的稳定性分析
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