大口径元件吸收缺陷检测仪（PTM-2000-LA）,基于光热扫描显 微成像技术，适用于各类大口径固体表面及亚表面缺陷的检测和分析，特别是各类大口径光学薄膜、光学元器件表面及亚表面吸收缺陷的检测和分析。本系统是一款非接触式、高分辨率、全自动化检测仪器，可根据用户具体需求进行紫外、可见或红外波段的精密检测和分析。

光学弱吸收测量仪，是一种基于激光诱导效应的光学测试设备。可以对光学薄膜、光学晶体、激光晶体、各类石英等材料进行吸收缺陷测量和吸收均匀性分布测量。分为检测表面吸收和体内材料吸收。 光学薄膜吸收测量仪（PTS-2000）,适用于各类光学薄膜和光学元器件表面吸收率的检测和分析。根据客户具体需求，可进行紫外、可见或者近红外波段的精密测量。 光学材料体内吸收测量仪（PTB-2000 ）,适用于各类光学元器件及材料体内吸收率的检测和分析。可以测量吸收均匀性分布、吸收缺陷、掺杂浓度等。对于光学材料内部的质量和指导生产过程具有重要作用。

全自动表面缺陷检测设备(AOSI-3000S),包含全自动上下料模块和检测模块，主要用于光学元件，包括镜片的外观质量的全自动检测与分拣，包括划痕、 麻点、印记、清洗残留、镀膜缺陷等。相比人工目检，具有高灵敏度、高重复性等特点。

大口径元件散射缺陷检测仪，适用于大口径光学材料、半导体材料和金属等材料抛光后的表面缺陷检测和分析。本设备是一款非接触式、全自动的检测仪器，能够高速检测待测表面的划痕、麻点、脏污等特性。

光学薄膜吸收测量仪（PTS-1000）,适用于各类光学薄膜和光学元器件表面吸收率的检测和分析。 根据客户具体需求，可以进行紫外、可见或者近红外波段的精密测量。

半自动表面缺陷检测设备，主要用于光学镜片的外观质量检测，包括划痕、麻点、 印记、清洗残留、镀膜缺陷等。与人工目检相比，本设备具备高灵敏度、高重复性等特点。

大口径元件缺陷多模态检测仪(MMDI-2000-LA)，结合全口径缺陷快速识别与子孔径高灵敏度、高分辨率显微成像的检测方式，可利用激光散射对大口径光学元件进行全口径快速扫描成像，对缺陷尺度、位置、形态进行统计分析，并结合使用光热弱吸收、明场显微成像、暗场显微成像、激光共聚焦显微成像等不同模态检测用户关注缺陷区域，获得关注区域的缺陷信息。

光学吸收光谱仪(PTAS-2000 ),适用于光学元件和材料表面、亚表面、体内吸收光谱的检测分析。本系统是—款非接触式、全自动的检测仪器，可根据客户需求进行紫外到红外全波段的精密检测和分析。

多模态表面缺陷检测仪(MMDI-2000 ),结合全口径缺陷快速识别与子孔径高峰灵敏度、高分辨率显微成像的检测方式，对表面缺陷尺度、位置、形态进行统计分析，并可结合使用光热弱吸收、显微成像等不同模态检测用户关注的缺陷区域，获取关注区域的缺陷信息。也可以利用微分干涉相衬显微成像技术，实现凸起和凹坑的区分。

大口径元件分光光度计(SPM-2000-LA ),基于双光路分光光度检测技术，通过光谱数据处理分析各光谱峰值位置、计算膜层的不均匀性。该设备可适用于各类光学元件透射特性、反射特性的检测，包括薄膜材料膜层厚度均匀性的检测和分析。本设备是一款非接触式、高分辨率、全自动化检测仪器，可根据用户具体需求进行紫外、可见或红外波段的精密检测和分析。

激光红外光谱仪（LIRS-2000），用于红外材料在不同温度条件或压力条件下的变角度投射光谱测试。

亚表面缺陷检测仪(SSDI—2000 )，集成包括光学显微成像、激光共聚焦成像在内的多种检测模式，用于光学元件表面、亚表面缺陷的检测与分析，可在深度方向对样品进行分层检测。