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亚表面缺陷检测仪

04.18 2025

亚表面缺陷检测仪(SSDI—2000 )，集成包括光学显微成像、激光共聚焦、荧光共聚焦选配等成像在内的多种检测模式，用于光学元件表面、亚表面缺陷的检测与分析，可在深度方向对样品进行分层检测。
光学透反射率测量仪

04.18 2025

光学透反射率测量仪(HTR-1000)，主要用于光学元件的透射率、反射率测量，能够对反射率高达99.99%或透射率高达99.99%的光学元件的透/反特性进行高精度测量。主要针对小口径光学元件，能够快速、精确、高重复性的检测光学元件的透射/反射特性。
大口径元件吸收缺陷检测仪

04.18 2025

大口径元件吸收缺陷检测仪(PTM-2000-LA)，基于光热扫描显微成像技术，适用于各类大口径固体表面及亚表面缺陷的检测和分析，特别是各类大口径光学薄膜、光学元器件表面及亚表面吸收缺陷的检测和分析。本系统是一款非接触式、高分辨率、全自动化检测仪器，可根据用户具体需求进行紫外、可见或红外波段的精密检测和分析。
大口径元件散射缺陷检测仪

04.18 2025

大口径元件散射缺陷检测仪(LSDI-2000-LA、LSDI-3000-C)，适用于大口径光学材料、半导体材料和金属等材料抛光后的表面缺陷检测和分析。本设备是一款非接触式、全自动的检测仪器，能够快速检测待测表面的划痕、麻点、脏污等特性。
大口径元件缺陷多模态检测仪

04.18 2025

大口径元件缺陷多模态检测仪(MMDI-2000-LA)，结合全口径缺陷快速识别与子孔径高灵敏度、高分辨率显微成像的检测方式，可利用激光散射对大口径光学元件进行全口径快速扫描成像，对缺陷尺度、位置、形态进行统计分析，并结合使用光热弱吸收、明场显微成像、暗场显微成像、激光共聚焦显微成像等不同模态检测用户关注缺陷区域，获得关注区域的缺陷信息。
大口径元件高透/反射率测量仪

04.18 2025

大口径元件高透/反射率测量仪(HTR-2000-LA)，主要应用于光学元件的透射率、反射率测量，能够对反射率高达99.99%或透射率高达99.99%的光学元件的透/反特性进行高精度测量。能够适用于不同尺寸，特别是大口径尺寸的光学元件，并根据元件尺寸信息自动规划检测路径，满足客户对感兴趣区域的透射/反射特性检测。
其他定制设备

04.18 2025

可根据用户需求，提供各类定制化解决方案,包括光学、半导体等材料的表面、亚表面、体内缺陷检测,吸收率反射率、透射率等检测。
知常光电人诚邀您共赴TOP2026精密光学技术与应用大会！

08.14 2026

会议背景MeetingBackground本次大会由湖北省光学学会、湖北省激光行业协会、激光之家主办，旨在搭建一个集信息共享、经验交流、技术支持和产品展示于一体
知常光电人诚邀您共赴第20届全国晶体生长与材料学术会议！

08.23 2026

会议背景MeetingBackground第二十届全国晶体生长与材料学术会议定于2026年8月22-25日在山东省济南市南郊宾馆召开，会议由中国硅酸盐学会晶体生
知常光电人诚邀您共赴2026年AI算力时代：磷化铟材料创新发展大会！

08.07 2026

亲爱的朋友们：由半导体在线主办的2026年AI算力时代：磷化铟材料创新发展大会将于8月7日在无锡举办,本次研讨会汇聚高校科研院所、产业链企业、行业专家，共同探讨
知常光电人诚邀您共赴第十二届环太平洋激光损伤国际会议（PLD2026）！

05.20 2026

会议背景MeetingBackground第十二届环太激光损伤专题会议（PLD2026）由中国科学院上海光学精密机械研究所与国际光学工程学会（SPIE）联合主办
知常光电人诚邀您共赴2026中国光学学会长春学术大会！

06.13 2026

会议背景MeetingBackground首届中国光学学会长春学术大会将于6月13-14日在长春东北亚国际会议中心召开，会议重点围绕超精密光学技术与应用，设置1

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